劳厄弯晶色散特性的光线追迹研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈灿1; 佟亚军1; 许照乾1; 毛定立1; 肖体乔1 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 2015 |
| 期号 | 4页码:42069 |
| 关键词 | X射线光学 劳厄弯晶 色散特性 光线追迹 |
| 中文摘要 | 劳厄弯晶具有可有效降低高热负载的影响,同时对透射光可以再次利用,已作为高通量密度高能X射线(30keV以上)聚焦、准直和单色化的最有效的分光元件。研究其色散特性,对发展高性能、多用途的劳厄弯晶单色器具有重要意义。采用自行发展的光线追迹软件对劳厄弯晶的色散特性进行了深入研究,得到衍射光能量随光斑的分布情况以及利用单块劳厄弯晶获得可聚焦不同能量射线束的选取方法,并推导了双光束中心能量及带宽的一般公式,为下一步更好地应用劳厄弯晶打下了基础。 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2015-12-24 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/24313]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 作者单位 | 1.浙江省计量科学研究院 2.中国科学院上海应用物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈灿,佟亚军,许照乾,等. 劳厄弯晶色散特性的光线追迹研究[J]. 核技术,2015(4):42069. |
| APA | 陈灿,佟亚军,许照乾,毛定立,&肖体乔.(2015).劳厄弯晶色散特性的光线追迹研究.核技术(4),42069. |
| MLA | 陈灿,et al."劳厄弯晶色散特性的光线追迹研究".核技术 .4(2015):42069. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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