PHOTOREFLECTANCE STUDY OF NARROW-WELL STRAINED-LAYER INXGA1-XAS/GAAS COUPLED MULTIPLE-QUANTUM-WELL STRUCTURES
文献类型：期刊论文
| 作者 | PAN SH ; SHEN H ; HANG Z ; POLLAK FH ; ZHUANG WH ; XU Q ; ROTH AP ; MASUT RA ; LACELLE C ; MORRIS D |
| 刊名 | physical review b
 |
| 出版日期 | 1988 |
| 卷号 | 38期号:5页码:3375-3382 |
| ISSN号 | 0163-1829 |
| 学科主题 | 半导体物理 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2010-11-15 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/14563]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | PAN SH,SHEN H,HANG Z,et al. PHOTOREFLECTANCE STUDY OF NARROW-WELL STRAINED-LAYER INXGA1-XAS/GAAS COUPLED MULTIPLE-QUANTUM-WELL STRUCTURES[J]. physical review b,1988,38(5):3375-3382. |
| APA | PAN SH.,SHEN H.,HANG Z.,POLLAK FH.,ZHUANG WH.,...&MORRIS D.(1988).PHOTOREFLECTANCE STUDY OF NARROW-WELL STRAINED-LAYER INXGA1-XAS/GAAS COUPLED MULTIPLE-QUANTUM-WELL STRUCTURES.physical review b,38(5),3375-3382. |
| MLA | PAN SH,et al."PHOTOREFLECTANCE STUDY OF NARROW-WELL STRAINED-LAYER INXGA1-XAS/GAAS COUPLED MULTIPLE-QUANTUM-WELL STRUCTURES".physical review b 38.5(1988):3375-3382. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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