硕士论文-GI-XAS技术及其在薄膜材料中的应用
文献类型：学位论文
| 作者 | 宋冬燕 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2014 |
| 授予单位 | 中国科学院大学 |
| 授予地点 | 北京 |
| 导师 | 张静 |
| 关键词 | GI-XAS 荧光模式 反射模式 数据质量 自动化控制 |
| 学位专业 | 计算机技术 |
| 中文摘要 | X射线吸收谱（X-ray absorption spectrum,XAS）是关于物质的X射线吸收系数随X射线能量变化的关系，XAS技术由于其卓而不群的特点成为科学研究中一种测量物质结构的重要工具。随着能源、环境和新材料科学的发展及其相关科学研究的深入，人们更需要知道各种功能薄膜、器件表面、固体-固体和固体-液体界面结构特性， 但是常规XAS实验无法提供样品表面结构信息。掠入射X射线吸收谱(GI-XAS)实验方法融合了掠入射X射线技术（Grazing incident X-ray）与X射线吸收谱技术（XAS），可提供一般表面探测方法难以得到的界面结构信息以及掠入射衍射方法无法研究的稀溶液和非晶态材料体系的结构信息，从而成为各种功能薄膜、器件表面、固体-固体和固体-液体界面结构的重要研究手段。 |
| 学科主题 | 计算机技术 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/210460]  |
| 专题 | 多学科研究中心_学位论文和出站报告 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋冬燕. 硕士论文-GI-XAS技术及其在薄膜材料中的应用[D]. 北京. 中国科学院大学. 2014. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。