正电子湮灭联合谱仪的组装测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张天保; 王少阶 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1982 |
| 期号 | 6页码:76-78 |
| 关键词 | 组装测试 γ能谱仪 单道分析器 分辨时间 高纯锗 测试方法 能量分辨率 谱仪放大器 谱段 探测效率 |
| 其他题名 | THE INSTALLATION AND EXAMINATION OF PAT COMBINED SPECTROMETER |
| 通讯作者 | 张天保 |
| 中文摘要 | 把寿命谱仪和锗γ能谱仪组装在一起的联合谱仪可以同时研究正电子湮灭寿命和辐射能谱两种参数,可以获得对湮灭过程更直观的了解。我们建立了此种谱仪并已经运用到正电子(PS)湮灭的实验研究中。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220702]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张天保,王少阶. 正电子湮灭联合谱仪的组装测试[J]. 核技术,1982(6):76-78. |
| APA | 张天保,&王少阶.(1982).正电子湮灭联合谱仪的组装测试.核技术(6),76-78. |
| MLA | 张天保,et al."正电子湮灭联合谱仪的组装测试".核技术 .6(1982):76-78. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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