正电子寿命谱数据处理可靠性的验算
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王蕴玉; 薛嘉渔 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1983 |
| 期号 | 2页码:25-27+74 |
| 关键词 | 去卷积 最小二乘法拟合 仪器分辨率 正电子湮没 测试仪器 实验点 道宽 指数曲线 指数衰减 计算方法 |
| 其他题名 | A CHECK ON THE RELIABILITY IN THE DATA PROCESSING OF A POSITRON LIFETIME SPECTRUM |
| 通讯作者 | 王蕴玉 |
| 中文摘要 | 我们用S.J.Tao提出的最小二乘法拟合多指数曲线的计算方法来分解实验测得的正电子湮没寿命谱。由于测试仪器有一定的分辨率,因而实际测到的计数F_i(t)与真实的强度N_i(t)之间有差异。这种差异在寿命谱的起始部分表现得十分强烈(见图1)。 在我们的实验中,仪器分辨率为260ps,道宽为43.5ps,一般从t～330ps以后,按2或3组分拟合分解寿命谱。在不使用去卷积”方法扣除分辨函数的影响时,舍去起始的7～8个实验点。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220743]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王蕴玉,薛嘉渔. 正电子寿命谱数据处理可靠性的验算[J]. 核技术,1983(2):25-27+74. |
| APA | 王蕴玉,&薛嘉渔.(1983).正电子寿命谱数据处理可靠性的验算.核技术(2),25-27+74. |
| MLA | 王蕴玉,et al."正电子寿命谱数据处理可靠性的验算".核技术 .2(1983):25-27+74. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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