溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 翟鹏济; 康铁笙 |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 1985 |
期号 | 4页码:8--9 |
关键词 | 溶胀 体蚀刻速度 聚碳酸酯 核径迹探测器 |
其他题名 | THE EFFECT OF SWELLING ON THE DETERMINATION OF BULK ETCHING RATE BY FISSION FRAGMENT TRACK DIAMETER |
通讯作者 | 翟鹏济 |
中文摘要 | 对于聚碳酸酯,在某些条件下由α径迹直径法得到的体蚀刻速度V_B比厚度法大。本文对这一差异的原因进行了探讨,实验方法及结果如下: 所用探测器材料是Lexan、朝阳1号和Makrofol-E三种聚碳酸酯。这些膜两面蚀刻性质相同,故采用双面蚀刻法。用各蚀刻时间t时的~(252)Cf裂片径迹直径φ与膜的厚差2V_Bt作图。所用蚀刻剂是6.25N NaOH、6.25N KOH、6.25N NaOH+0.05%烷基苯磺酸钠以及 |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220866] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 翟鹏济,康铁笙. 溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响[J]. 核技术,1985(4):8--9. |
APA | 翟鹏济,&康铁笙.(1985).溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响.核技术(4),8--9. |
MLA | 翟鹏济,et al."溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响".核技术 .4(1985):8--9. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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