用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数
文献类型：期刊论文
| 作者 | 范钦敏; 李道伦 |
| 刊名 | 分析测试通报
 |
| 出版日期 | 1987 |
| 期号 | 1页码:25-27 |
| 关键词 | X射线 散射强度 非弹性散射 射线荧光分析 基体效应 权因子 转动角 实验方法 蒙特卡罗模拟 光电吸收系数 |
| 其他题名 | DETERMINATION OF THE AVERAGE ATOMIC NUMBER BY X-RAY SCATTERING INTENSITY |
| 通讯作者 | 范钦敏 |
| 中文摘要 | 在X射线荧光分析中,如果待测样品是一个较为复杂的未知体系,则在考虑样品对X射线的基体效应时,需要确定样品的原子序数。一些作者用实验方法测定了等效弹性散射和非弹性散射强度与原子序数的关系曲线,由此可以定出等效原子序数。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220979]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 范钦敏,李道伦. 用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数[J]. 分析测试通报,1987(1):25-27. |
| APA | 范钦敏,&李道伦.(1987).用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数.分析测试通报(1),25-27. |
| MLA | 范钦敏,et al."用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数".分析测试通报 .1(1987):25-27. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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