调试正电子寿命谱仪能窗的一种简便方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王蕴玉; 龙熙平 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1987 |
| 期号 | 4页码:36-37+63 |
| 关键词 | 正电子 寿命谱仪 恒比微分甄别器 |
| 其他题名 | A SIMPLE METHOD OF SETTING THE ENERGY WINDOW OF POSITRON LIFETIME SPECTROMETER |
| 通讯作者 | 王蕴玉 |
| 中文摘要 | 最近几年,恒比微分甄别器己广泛用于正电子湮没寿命谱仪中,使该装置简化到可以不用符合方式,只使用阳极引出。以往调试能窗是利用打拿极输出做能谱显示来解决。本文总结了在不用打拿极的情况下也可达到这个目的的经验。它的主要思想是:利用恒比微分甄别器(ORTEC 583)的输出随阈值或能窗的微分变化来确定511 keV康峰的边沿和选出具有最佳效率的能窗。方法的可靠性用直接显示的能谱做了检验,也用示波器测定了脉冲的幅度, |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220994]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王蕴玉,龙熙平. 调试正电子寿命谱仪能窗的一种简便方法[J]. 核技术,1987(4):36-37+63. |
| APA | 王蕴玉,&龙熙平.(1987).调试正电子寿命谱仪能窗的一种简便方法.核技术(4),36-37+63. |
| MLA | 王蕴玉,et al."调试正电子寿命谱仪能窗的一种简便方法".核技术 .4(1987):36-37+63. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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