用正电子湮没技术研究形变对碳氮共渗过程的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 何永枢; 曹玔; 顾华; 王瑞祥; 谷南驹; 曾照义 |
刊名 | 科学通报
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出版日期 | 1987 |
期号 | 2页码:99-100 |
关键词 | 正电子湮没技术 碳氮共渗 化学热处理 热处理工艺 位型 渗层深度 退火态 间隙原子 淬火处理 高温淬火 |
通讯作者 | 何永枢 |
中文摘要 | 形变化学热处理是很有发展前途的一种新型热处理工艺。但室温预形变产生的缺陷是加速还是阻碍碳氮共渗过程的实验结果及其所作的解释却不一致。 由于正电子湮没技术对晶体空位型的缺陷极其灵敏,我们对低碳钢冷轧形变产生的缺陷及其在盐炉中加热和氰化发生的变化进行了研究。 |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221010] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 何永枢,曹玔,顾华,等. 用正电子湮没技术研究形变对碳氮共渗过程的影响[J]. 科学通报,1987(2):99-100. |
APA | 何永枢,曹玔,顾华,王瑞祥,谷南驹,&曾照义.(1987).用正电子湮没技术研究形变对碳氮共渗过程的影响.科学通报(2),99-100. |
MLA | 何永枢,et al."用正电子湮没技术研究形变对碳氮共渗过程的影响".科学通报 .2(1987):99-100. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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