大角度晶界的正电子湮没研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 周先意; 蒋惠林; 王淑英; 姜健; 龙期威 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1989 |
| 期号 | 11页码:638-642 |
| 关键词 | 晶界 正电子寿命 饱和捕获 |
| 其他题名 | A POSITRON ANNIHILATION STUDY ON LARGE ANGLE GRAIN BOUNDARIES |
| 中文摘要 | 从两态捕获模型出发,导出了正电子平均寿命与晶粒大小之间的关系,并且预言了晶界正电子饱和捕获效应的存在。在实验上,通过对Zn-22wt％Al合金大角度晶界正电子捕获效应的观察,验证了上述关系,并对大角度晶界正电子捕获效应的一般情况予以讨论。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221091]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周先意,蒋惠林,王淑英,等. 大角度晶界的正电子湮没研究[J]. 核技术,1989(11):638-642. |
| APA | 周先意,蒋惠林,王淑英,姜健,&龙期威.(1989).大角度晶界的正电子湮没研究.核技术(11),638-642. |
| MLA | 周先意,et al."大角度晶界的正电子湮没研究".核技术 .11(1989):638-642. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。