纳克级全反射X射线荧光分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 范钦敏; 刘亚雯; 李道伦; 魏成连; 胡金生 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
 |
| 出版日期 | 1990 |
| 期号 | 6页码:64-67+58 |
| 关键词 | 射线荧光分析 反射体 射线束 纳克 检测限 射线管 反射技术 文中 射角 线谱 |
| 其他题名 | TOTAL-REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRIC DETERMINATION OF ELEMENTS IN NANOGRAM AMOUNTS |
| 通讯作者 | 范钦敏 |
| 中文摘要 | 本文报道了由高能物理所自行研制的全反射X射线荧光分析装置,在X射线荧光分析中,应用这个装置,将使入射X射线束产生的散射本底大大降低,从而显著地改善了X射线荧光分析的检测限与灵敏度。在初始束路程上,由于能量切割反射体的应用,使初始谱的低能部分本底也明显下降。文中还给出了全反射条件下六种元素的检测限。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221122]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 范钦敏,刘亚雯,李道伦,等. 纳克级全反射X射线荧光分析[J]. 光谱学与光谱分析,1990(6):64-67+58. |
| APA | 范钦敏,刘亚雯,李道伦,魏成连,&胡金生.(1990).纳克级全反射X射线荧光分析.光谱学与光谱分析(6),64-67+58. |
| MLA | 范钦敏,et al."纳克级全反射X射线荧光分析".光谱学与光谱分析 .6(1990):64-67+58. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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