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微X射线束荧光扫描成分分布分析的研究

文献类型:期刊论文

作者安庆骧; 马光祖; 巢志瑜; 吴应荣; 赵盛红
刊名光谱学与光谱分析
出版日期1990
期号5页码:46-49
关键词射线束 荧光光谱分析 谱分析技术 荧光扫描 荧光分析 分布分析 仪器结构 射线源 分布图 微区
其他题名STUDY OF COMPONENT DISTRIBUTION ANALYSIS BY X-RAY MICROFLUORESCENCE SPECTROMETRY SCANNING
中文摘要一、前言能谱分析技术的发展,给微X射线束荧光分析(XRMF)提供了有利条件。后者(XRMF)是X射线荧光光谱分析(XRF)的一个新发展。它与常规X射线荧光光谱(XRF)及扫描电镜(SME)相比如表1。
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221123]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
安庆骧,马光祖,巢志瑜,等. 微X射线束荧光扫描成分分布分析的研究[J]. 光谱学与光谱分析,1990(5):46-49.
APA 安庆骧,马光祖,巢志瑜,吴应荣,&赵盛红.(1990).微X射线束荧光扫描成分分布分析的研究.光谱学与光谱分析(5),46-49.
MLA 安庆骧,et al."微X射线束荧光扫描成分分布分析的研究".光谱学与光谱分析 .5(1990):46-49.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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