一种新型物质结构分析手段———同步辐射XAFS方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 谢亚宁 ; 胡天斗; 陈贤能
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| 刊名 | 物理
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| 出版日期 | 1996 |
| 期号 | 8页码:507-509 |
| 关键词 | 同步辐射 XAFS 单色器 储存环 |
| 通讯作者 | 谢亚宁 |
| 中文摘要 | ＸＡＦＳ方法是一种新型物质结构分析手段，近年来已成为非常活跃的学科领域．文章简要介绍了ＸＡＦＳ的物理概念，同步辐射ＸＡＦＳ实验方法的基本原理及实验装置，我国建造的第一个也是目前唯一的同步辐射ＸＡＦＳ实验系统的主要物理参数、运行状况，以及我国ＸＡＦＳ研究工作的进展 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221503]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢亚宁,胡天斗,陈贤能. 一种新型物质结构分析手段———同步辐射XAFS方法[J]. 物理,1996(8):507-509. |
| APA | 谢亚宁,胡天斗,&陈贤能.(1996).一种新型物质结构分析手段———同步辐射XAFS方法.物理(8),507-509. |
| MLA | 谢亚宁,et al."一种新型物质结构分析手段———同步辐射XAFS方法".物理 .8(1996):507-509. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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