软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 崔聪悟; 崔明启
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1997 |
| 期号 | 5页码:358- |
| 关键词 | 软X射线绝对光强测量 电离室 |
| 其他题名 | The Design of a Measuring System for Soft X Ray Absolute Intensity |
| 通讯作者 | 崔聪悟 |
| 中文摘要 | 本文介绍软Ｘ射线绝对光强测量系统的物理设计，测量的能区为５０～２０００ｅＶ。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221552]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔聪悟,崔明启. 软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计[J]. 核电子学与探测技术,1997(5):358-. |
| APA | 崔聪悟,&崔明启.(1997).软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计.核电子学与探测技术(5),358-. |
| MLA | 崔聪悟,et al."软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计".核电子学与探测技术 .5(1997):358-. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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