软X射线绝对光强测量系统及其标定
文献类型：期刊论文
| 作者 | 崔聪悟; 崔明启 ; 易荣清
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| 刊名 | 高能物理与核物理
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| 出版日期 | 1998 |
| 期号 | 2页码:180-186 |
| 关键词 | 软X射线绝对光强测量 电离室 标定 |
| 其他题名 | DESIGN AND CALIBRATION OF THE MEASURIING SYSTEM FOR SOFT X-RAY ABSOLUTE INTENSITY |
| 通讯作者 | 崔聪悟 |
| 中文摘要 | 详细介绍了软Ｘ射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果，测量系统包括电离室、监测（或待标定）探测器及其传动系统两部分，可作为５０－２０００ｅＶ软Ｘ射线绝对强度测量的一级标准探测器。并给出了系统的偏差。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221621]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔聪悟,崔明启,易荣清. 软X射线绝对光强测量系统及其标定[J]. 高能物理与核物理,1998(2):180-186. |
| APA | 崔聪悟,崔明启,&易荣清.(1998).软X射线绝对光强测量系统及其标定.高能物理与核物理(2),180-186. |
| MLA | 崔聪悟,et al."软X射线绝对光强测量系统及其标定".高能物理与核物理 .2(1998):180-186. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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