Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索
文献类型：期刊论文
| 作者 | 彭良强; 魏成连; 刘亚雯; 张天保; 吴强 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1998 |
| 期号 | 1页码:98-100 |
| 关键词 | 化学位移 X射线荧光 Si（Li）谱仪 |
| 其他题名 | CHEMICAL SHIFTS OF CrKβ PEAKS IN XRF SPECTRA BY Si ( Li) SPECTROMETRY |
| 通讯作者 | 彭良强 |
| 中文摘要 | 采用放射源２４１Ａｍ５９．６ｋｅＶγ射线分别激发金属Ｃｒ、Ｃｒ２Ｏ３和Ｋ２ＣｒＯ４，用Ｓｉ（Ｌｉ）谱仪比较测量其Ｋｘ射线的能量。实验表明Ｋ２ＣｒＯ４中ＣｒＫβ能峰相对于金属Ｃｒ有２．１２±０．２７ｅＶ的位移。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221629]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 彭良强,魏成连,刘亚雯,等. Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索[J]. 光谱学与光谱分析,1998(1):98-100. |
| APA | 彭良强,魏成连,刘亚雯,张天保,&吴强.(1998).Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索.光谱学与光谱分析(1),98-100. |
| MLA | 彭良强,et al."Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索".光谱学与光谱分析 .1(1998):98-100. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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