HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张天保; 彭良强; 陈红民; 魏龙 ; 孟伯年
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1999 |
| 期号 | 4页码:241- |
| 关键词 | 非线性 HPGeγ谱仪 |
| 其他题名 | Investigation of the Electronics No nlinearity in a HPGe γ Spectrometer |
| 通讯作者 | 张天保 |
| 中文摘要 | 用产生器脉冲和探测器脉冲两种方法相互核对测试了Ｏｒｔｅｃ公司一套ＨＰＧｅγ谱仪电子学各部件的非线性偏离曲线，测量精度到３×１０－６水平，研究了它们对谱仪整个系统非线性的贡献。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221709]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张天保,彭良强,陈红民,等. HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究[J]. 核电子学与探测技术,1999(4):241-. |
| APA | 张天保,彭良强,陈红民,魏龙,&孟伯年.(1999).HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究.核电子学与探测技术(4),241-. |
| MLA | 张天保,et al."HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究".核电子学与探测技术 .4(1999):241-. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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