软X射线辐照引起的InP表面电子态变化
文献类型:期刊论文
作者 | 杨志安; 靳涛; 杨祖慎; 奎热西![]() ![]() |
刊名 | 物理学报
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出版日期 | 1999 |
期号 | 6页码:1113-1118 |
关键词 | 表面电子态 InP 紫外光电子能谱 辐照效应 射线能量 电子组态 化学位移 悬挂键 原子比 杂化 |
其他题名 | CHANGESOF SURFACE ELECTRON STATESOF InP UNDER SOFT X-RAYS IRRADIATION |
中文摘要 | 采用X光电子能谱(XPS)和紫外光电子能谱(UPS)研究了软X射线辐照InP所产生的表面电子态的变化.实验结果表明,软X射线的照射,对In原子影响不大,而对P原子影响很大.分析了InP的辐照效应机理,解释了产生上述影响的原因 |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221730] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨志安,靳涛,杨祖慎,等. 软X射线辐照引起的InP表面电子态变化[J]. 物理学报,1999(6):1113-1118. |
APA | 杨志安,靳涛,杨祖慎,奎热西,崔明启,&刘风琴.(1999).软X射线辐照引起的InP表面电子态变化.物理学报(6),1113-1118. |
MLA | 杨志安,et al."软X射线辐照引起的InP表面电子态变化".物理学报 .6(1999):1113-1118. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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