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寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析

文献类型:期刊论文

作者范东宇; 冯松林; 冯向前; 雷勇; 徐清; 张颖; 黄宇营; 何伟; 权奎山; 沈岳明
刊名核技术
出版日期2002
期号10页码:833-836
关键词越窑青瓷 同步辐射X荧光分析 统计分析
其他题名Study of yue kiln ancient celadon by SRXRF and statistic analysis
通讯作者范东宇
中文摘要本文采用同步辐射X荧光对浙江寺龙口越窑的 80块古瓷样品进行了分析 ,样品中V、Ni、Zn和Mn具有一定的年代变化规律性。实验数据的统计分析结果表明 ,越窑古瓷中元素含量具有一定的年代和产地特征 ,SRXRF与中子活化实验的统计分析结果相符合
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221931]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
范东宇,冯松林,冯向前,等. 寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析[J]. 核技术,2002(10):833-836.
APA 范东宇.,冯松林.,冯向前.,雷勇.,徐清.,...&沈岳明.(2002).寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析.核技术(10),833-836.
MLA 范东宇,et al."寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析".核技术 .10(2002):833-836.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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