寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析
文献类型:期刊论文
作者 | 范东宇; 冯松林![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 2002 |
期号 | 10页码:833-836 |
关键词 | 越窑青瓷 同步辐射X荧光分析 统计分析 |
其他题名 | Study of yue kiln ancient celadon by SRXRF and statistic analysis |
通讯作者 | 范东宇 |
中文摘要 | 本文采用同步辐射X荧光对浙江寺龙口越窑的 80块古瓷样品进行了分析 ,样品中V、Ni、Zn和Mn具有一定的年代变化规律性。实验数据的统计分析结果表明 ,越窑古瓷中元素含量具有一定的年代和产地特征 ,SRXRF与中子活化实验的统计分析结果相符合 |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221931] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 范东宇,冯松林,冯向前,等. 寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析[J]. 核技术,2002(10):833-836. |
APA | 范东宇.,冯松林.,冯向前.,雷勇.,徐清.,...&沈岳明.(2002).寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析.核技术(10),833-836. |
MLA | 范东宇,et al."寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析".核技术 .10(2002):833-836. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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