辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 翟鹏济; 唐孝威
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| 刊名 | 原子能科学技术
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| 出版日期 | 2002 |
| 期号 | 6页码:564-568 |
| 关键词 | 扫描隧道显微镜 扫描力显微镜 辐射损伤潜径迹 损伤参数 损伤机制 |
| 其他题名 | Study on Nano-meter Scale Observation of Latent Tracks Induced by Ions |
| 通讯作者 | 翟鹏济 |
| 中文摘要 | 综述了近年来用扫描隧道显微镜 (STM )和扫描力显微镜 (SFM)在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展。详述了辐射损伤潜径迹的形貌、损伤范围、损伤数密度、损伤几率等 ,对损伤潜径迹直径与能损的关系、损伤过程及各种可能的损伤机制进行了分析和讨论。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221975]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 高能物理研究所_粒子天体物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 翟鹏济,唐孝威. 辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究[J]. 原子能科学技术,2002(6):564-568. |
| APA | 翟鹏济,&唐孝威.(2002).辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究.原子能科学技术(6),564-568. |
| MLA | 翟鹏济,et al."辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究".原子能科学技术 .6(2002):564-568. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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