SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌
文献类型：期刊论文
| 作者 | 景晓宁; 胡小方; 赵建华; 王亚鸥; 田玉莲 |
| 刊名 | 材料科学与工程学报
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| 出版日期 | 2003 |
| 期号 | 3页码:327-330 |
| 关键词 | 同步辐射硬X射线 SXR-CT技术 烧结陶瓷 微结构拓扑形貌 密度分布 |
| 其他题名 | Application of Synchrotron Computed Microtomography to Study 3D Pore Topology and Density Distribution in Sintered Ceramics |
| 中文摘要 | 借助同步辐射硬X射线高强度 ,强穿透 ,高分辨和天然准直性的特性 ,应用卷积反投影重建算法实现CT三维重建技术 ,简称SXR CT(SynchrotronX RayComputedTomography) ,研究了氧化物陶瓷烧结体残余孔隙的三维拓扑微结构。同时量化计算了样品的孔隙率和密度 ,较好地符合实验测量数据 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222001]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 景晓宁,胡小方,赵建华,等. SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌[J]. 材料科学与工程学报,2003(3):327-330. |
| APA | 景晓宁,胡小方,赵建华,王亚鸥,&田玉莲.(2003).SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌.材料科学与工程学报(3),327-330. |
| MLA | 景晓宁,et al."SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌".材料科学与工程学报 .3(2003):327-330. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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