有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征
文献类型：期刊论文
| 作者 | 巩雁军; 李志宏 ; 董宝中
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2003 |
| 期号 | 12页码:909-913 |
| 关键词 | 介孔分子筛 有机官能化MSU-X 界面特征 SAXS表征 |
| 其他题名 | CHARACTERIZATION OF THE INTERFACE LAYER OF ORGANICALLY MODIFIED MESOPOROUS SILICATES |
| 中文摘要 | 采用X射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、红外(IR)、核磁共振(NMR)、拉曼(Raman)光谱、热重(TG)、N_2吸附/脱附分析、元素分析等现代物理技术对有机官能化介孔材料的物相、表面组成、稳定性等织构性能进行表征。对所合成的系列有机官能化硅基MSU—X介孔材料,表征了各种有机硅氧烷由于其反应速率、空间位阻的不同,使其对硅基骨架的缩聚程度、孔道和表面所带来的性质差异。运用小角X射线散射方法(SAXS)实验技术对所合成的有机官能化介孔材料结构和表面的表征方法,揭示了有机官能化基团在介孔孔道的存在状态及在孔道表面所形成的界面特征。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222047]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 巩雁军,李志宏,董宝中. 有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征[J]. 核技术,2003(12):909-913. |
| APA | 巩雁军,李志宏,&董宝中.(2003).有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征.核技术(12),909-913. |
| MLA | 巩雁军,et al."有机官能化硅基介孔分子筛的界面层表征".核技术 .12(2003):909-913. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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