宣德官窑青花瓷的面扫描分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨益民; 冯敏; 朱剑; 毛振伟; 王昌燧; 黄宇营; 何伟
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| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 2004 |
| 期号 | 8页码:902-906 |
| 关键词 | 青花瓷 SRXRF 面扫描 无损检测 |
| 其他题名 | Plane Scan Analysis of the Surface of White and Blue Porcelain by SRXRF Method |
| 中文摘要 | 用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析 ,结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式。根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K ,Cr ,Mn ,Fe,Co ,Ni,Cu ,Zn ,Hg ,Rb ,Sr,Y和Zr等 13个元素分为 3组。它可作为各个朝代青花瓷指纹元素”的选择依据 ,并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222124]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨益民,冯敏,朱剑,等. 宣德官窑青花瓷的面扫描分析[J]. 光谱学与光谱分析,2004(8):902-906. |
| APA | 杨益民.,冯敏.,朱剑.,毛振伟.,王昌燧.,...&何伟.(2004).宣德官窑青花瓷的面扫描分析.光谱学与光谱分析(8),902-906. |
| MLA | 杨益民,et al."宣德官窑青花瓷的面扫描分析".光谱学与光谱分析 .8(2004):902-906. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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