利用数据采集卡实现快速XAFS
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘涛; 薛超; 谢亚宁 ; 胡天斗; 张静; 吴自玉
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2004 |
| 期号 | 12页码:885-889 |
| 关键词 | 同步辐射 快速扫描X射线吸收精细结构谱 原位 数据采集 |
| 其他题名 | FEASIBILITY OF QXAFS USING A DATA ACQUISITION BOARD |
| 通讯作者 | 刘涛 |
| 中文摘要 | 在北京同步辐射实验室的1W1B XAFS实验站上利用工业控制中的数据采集技术建立了快速扫描XAFS实验方法。探讨了实验方法与各种实验参数:如单色器移动速率、采样次数、设备通信方式等的制约关系,以及获得最佳实验条件的途径。新方法可在数十秒的时间尺度内得到扩展X射线吸收精细谱,近边谱的时间可以更短,从而有可能应用于一些与时间过程有关的原位实验中。作为一个应用实例,用快速扫描X射线吸收精细结构谱(QXAFS)测量了非晶硒在快速加热过程中的结构变化。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222158]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘涛,薛超,谢亚宁,等. 利用数据采集卡实现快速XAFS[J]. 核技术,2004(12):885-889. |
| APA | 刘涛,薛超,谢亚宁,胡天斗,张静,&吴自玉.(2004).利用数据采集卡实现快速XAFS.核技术(12),885-889. |
| MLA | 刘涛,et al."利用数据采集卡实现快速XAFS".核技术 .12(2004):885-889. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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