关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨
文献类型：期刊论文
| 作者 | 冯松林 ; 程琳; 雷勇; 冯向前; 范东宇; 徐清; 沙因; 黄宇营; 何伟
|
| 刊名 | 岩矿测试
 |
| 出版日期 | 2004 |
| 期号 | 3页码:179-182 |
| 关键词 | 微分析标准物质 仪器中子活化 同步辐射X荧光 |
| 其他题名 | Study on Microanalysis Reference Material for X-Ray Fluorescence Analysis |
| 通讯作者 | 冯松林 |
| 中文摘要 | 将经过高温处理的土壤样品进行反复研磨后,用于X射线荧光微分析标准物质的研制,当99%的粉末粒径≤30μm时,用仪器中子活化和同步辐射X射线荧光进行元素分布均匀性和最少取样量分析,结果表明24个元素的最少取样量可以降到约1mg。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222211]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯松林,程琳,雷勇,等. 关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨[J]. 岩矿测试,2004(3):179-182. |
| APA | 冯松林.,程琳.,雷勇.,冯向前.,范东宇.,...&何伟.(2004).关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨.岩矿测试(3),179-182. |
| MLA | 冯松林,et al."关于研制X射线荧光微分析标准物质的探讨".岩矿测试 .3(2004):179-182. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。