小角X光散射中干涉效应的判断与处理
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李志宏 ; 吴忠华; 吴自玉; 吴东
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| 刊名 | 光散射学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 4页码:384-387 |
| 关键词 | 小角X光散射 密集体系 干涉效应 |
| 其他题名 | Methods to Distinguish and Handle the Interference in SAXS |
| 通讯作者 | 李志宏 |
| 中文摘要 | 小角X光散射是当X光照射到物质上时发生的在原光束附近小角度范围内的电子相干散射,凡是存在纳米尺度的电子密度不均匀区的物质均会产生小角X光散射现象,因此它是表征纳米、多孔材料结构的理想手段。SAXS中的有关理论一般仅适用于稀疏体系,对于密集体系,往往会产生干涉现象。本文简要总结了目前文献中有关干涉效应的判断与处理方法。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222275]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李志宏,吴忠华,吴自玉,等. 小角X光散射中干涉效应的判断与处理[J]. 光散射学报,2005(4):384-387. |
| APA | 李志宏,吴忠华,吴自玉,&吴东.(2005).小角X光散射中干涉效应的判断与处理.光散射学报(4),384-387. |
| MLA | 李志宏,et al."小角X光散射中干涉效应的判断与处理".光散射学报 .4(2005):384-387. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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