红绿彩瓷化妆土的线扫描分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨益民; 汪丽华; 朱剑; 王昌燧; 阎焰; 陈栋梁 ; 何伟; 黄宇营; 华巍; 徐伟
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 9页码:653-657 |
| 关键词 | SRXRF 红绿彩瓷 化妆土 线扫描分析 |
| 其他题名 | Line scan micro XRF analysis of engobe of whiteware painted with red, green and yellow patterns |
| 中文摘要 | 采用同步辐射X射线荧光分析方法(SRXRF),对宋金时期红绿彩瓷的断面进行线扫描分析,发现在釉和化妆土以及化妆土和胎的交界处,均存在明显的过渡层。不同元素在两个过渡层的变化规律不完全一致,与釉、化妆土及胎的原料密切相关,据此可判断瓷器是否施加过化妆土。化妆土中Fe、Ti含量明显低于胎,有利于提高瓷釉的白度和质量。结合岩相分析发现化妆土中富含云母类矿物,这将加强白色反射效果。该类化妆土在已往的白瓷化妆土中均未见报道,值得进一步研究。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222620]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨益民,汪丽华,朱剑,等. 红绿彩瓷化妆土的线扫描分析[J]. 核技术,2008(9):653-657. |
| APA | 杨益民.,汪丽华.,朱剑.,王昌燧.,阎焰.,...&徐伟.(2008).红绿彩瓷化妆土的线扫描分析.核技术(9),653-657. |
| MLA | 杨益民,et al."红绿彩瓷化妆土的线扫描分析".核技术 .9(2008):653-657. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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