锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王玉柱; 贾全杰 ; 陈雨; 薛宪营; 姜晓明; 崔健; 林健晖; 蒋最敏; 何庆
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 4页码:250-254 |
| 关键词 | 锗硅 量子点 掠入射小角X射线散射 |
| 其他题名 | GeSi quantum dots studied by grazing incidence small angle X-ray scattering |
| 通讯作者 | 王玉柱 |
| 中文摘要 | 采用同步辐射X射线对MBE制备的锗硅量子点试样进行了掠入射小角X射线散射(GISAXS,grazing incidence small angle X-ray scattering)研究。根据AFM测量得到的量子点尺寸、形状和间距等参数,采用DWBA理论以及合适的分布函数,利用IsGISAXS程序对一维和二维GISAXS测量结果进行了模拟,模拟结果与实验数据符合很好,表明GISAXS是一种探测锗硅量子点尺寸、形状和分布等结构信息有效的方法。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222626]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王玉柱,贾全杰,陈雨,等. 锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究[J]. 核技术,2008(4):250-254. |
| APA | 王玉柱.,贾全杰.,陈雨.,薛宪营.,姜晓明.,...&何庆.(2008).锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究.核技术(4),250-254. |
| MLA | 王玉柱,et al."锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究".核技术 .4(2008):250-254. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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