真空紫外-软X射线波段(5~105nm)探测器校准装置的研制
文献类型:期刊论文
作者 | 刘金元; 薛凤仪; 李平; 崔明启![]() ![]() |
刊名 | 计量学报
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出版日期 | 2008 |
期号 | 3页码:275-279 |
关键词 | 计量学 真空紫外 软X射线 电离室 标准探测器 |
其他题名 | Detector Calibration Facility in the Wavelength Range of VUV- Soft X-Ray ( 5~ 105 nm) |
中文摘要 | 介绍了中国计量科学研究院在真空紫外-软X射线波段(5~105 nm)探测器标准研究的新进展。介绍了建立在中国科学技术大学国家同步辐射实验室的以稀有气体电离室为标准探测器的探测器校准装置,以及利用该电离室作为基准探测器对作为传递标准探测器的硅光电二极管的量子效率测量的结果,在5~35 nm范围内,相对标准不确定度为18%~20%。与NIST的结果相比,有较好的符合。 |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222629] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘金元,薛凤仪,李平,等. 真空紫外-软X射线波段(5~105nm)探测器校准装置的研制[J]. 计量学报,2008(3):275-279. |
APA | 刘金元.,薛凤仪.,李平.,崔明启.,赵屹东.,...&霍同林.(2008).真空紫外-软X射线波段(5~105nm)探测器校准装置的研制.计量学报(3),275-279. |
MLA | 刘金元,et al."真空紫外-软X射线波段(5~105nm)探测器校准装置的研制".计量学报 .3(2008):275-279. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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