同步辐射计算机断层技术光源误差机理分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 汪敏; 岑豫皖; 胡小方; 余晓流; 朱佩平
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| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 2008 |
| 期号 | 10页码:6202-6206 |
| 关键词 | 同步辐射 计算机断层 光源 误差 |
| 其他题名 | Error mechanism of light source for synchrotron radiation computed tomography technique |
| 中文摘要 | 基于同步辐射X射线的优越特性及计算机断层重建技术对材料无损检测等优点,同步辐射计算机断层重建技术被广泛应用于很多领域.本文对光源非均匀、过饱和以及过穿透的三种情形所引起同步辐射计算机断层技术重建误差的形成机理进行了分析研究,给出了三种情形所引起误差的基本形式.在此基础上,对这三种误差进行了数值模拟,模拟结果证实了分析的正确性. |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222646]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 汪敏,岑豫皖,胡小方,等. 同步辐射计算机断层技术光源误差机理分析[J]. 物理学报,2008(10):6202-6206. |
| APA | 汪敏,岑豫皖,胡小方,余晓流,&朱佩平.(2008).同步辐射计算机断层技术光源误差机理分析.物理学报(10),6202-6206. |
| MLA | 汪敏,et al."同步辐射计算机断层技术光源误差机理分析".物理学报 .10(2008):6202-6206. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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