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基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成

文献类型:期刊论文

作者韦晓; 王艳丽; 梁永锋; 叶丰; 林均品; 陈国良; 李卓昕; 王宝义
刊名南京大学学报(自然科学版)
出版日期2009
期号2页码:143-146
关键词Fe-6.5wt.%Si合金 正电子湮没寿命 空位生成激活焓
其他题名Formation of thermal vacancies in Fe-6 .5wt .%Si al loy studied by positron annihilation l ifetime spectra
中文摘要正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿命谱技术对金属间化合物Fe-6.5wt.%Si合金热轧板在不同温度退火后缺陷变化进行研究,发现了正电子平均寿命在673K左右迅速增加,673至1073K温度范围内平均正电子寿命的温度曲线为明显的S形状,1073K以上平均正电子寿命趋于常数,通过分析正电子平均寿命的温度变化曲线,得到了Fe-6.5wt.%Si合金中热空位生成的临界温度值,并计算得到了该合金的空位生成激活...
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222723]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
高能物理研究所_核技术应用研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
韦晓,王艳丽,梁永锋,等. 基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成[J]. 南京大学学报(自然科学版),2009(2):143-146.
APA 韦晓.,王艳丽.,梁永锋.,叶丰.,林均品.,...&王宝义.(2009).基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成.南京大学学报(自然科学版)(2),143-146.
MLA 韦晓,et al."基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成".南京大学学报(自然科学版) .2(2009):143-146.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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