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X射线荧光光谱分析陶瓷标准样品的研制

文献类型:期刊论文

作者朱继浩; 冯松林; 初凤友; 冯向前; 谢国喜; 闫灵通; 李丽
刊名光谱学与光谱分析
出版日期2010
期号11页码:3143-3148
关键词X射线荧光光谱法 古陶瓷 标准样品 电子探针 均匀性
其他题名Development of Ceramic Standard Samples Used for X-Ray Fluorescence Spectrometric Analysis
中文摘要简要叙述了一套17种陶瓷标准样品的研制方法和制作过程,并对烧成试样进行了EPMA和X射线荧光光谱分析研究。结果表明:烧成试样与古瓷胎具有相近的物相结构(或基体),且胎体致密度高、吸水率低,主成分分布均匀(X射线束斑直径为2mm,α=0.05),完全能够满足用作陶瓷标准样品的技术要求。预期可将这套标准样品用于古瓷胎中Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,K2O,CaO,TiO2和Fe2O3等主成分的X射线荧光光谱定量分析,保证为古陶瓷研究和科学鉴定提供准确、可靠的分析数据。
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222793]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
朱继浩,冯松林,初凤友,等. X射线荧光光谱分析陶瓷标准样品的研制[J]. 光谱学与光谱分析,2010(11):3143-3148.
APA 朱继浩.,冯松林.,初凤友.,冯向前.,谢国喜.,...&李丽.(2010).X射线荧光光谱分析陶瓷标准样品的研制.光谱学与光谱分析(11),3143-3148.
MLA 朱继浩,et al."X射线荧光光谱分析陶瓷标准样品的研制".光谱学与光谱分析 .11(2010):3143-3148.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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