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基于遗传算法的正电子湮没寿命谱拟合

文献类型:期刊论文

作者马敏阳; 秦秀波; 姜小盼; 于润升; 王宝义; 吴伟明
刊名核技术
出版日期2011
期号3页码:179-182
关键词正电子湮没寿命谱 遗传算法 多指数函数 拟合
其他题名Fitting positron annihilation lifetime spectroscopy based on genetic algorithm
中文摘要正电子湮没谱学是无损探测材料中纳米缺陷的有效手段,通过正电子湮没寿命谱可获得正电子在材料中的湮没状态以及材料内部电子密度分布的信息。本工作基于遗传算法(GA)的全局搜索、随机产生初值的特点,对正电子湮没理论寿命谱进行了多指数函数拟合的尝试,并用MATLAB语言编程实现了曲线拟合,得到的各组分寿命及相应强度。与LifeTime9.0的解谱结果比较,遗传算法求解寿命谱待估参数,具有不用赋经验性初值也不会陷入局部最优的优点。
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222879]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
高能物理研究所_核技术应用研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
马敏阳,秦秀波,姜小盼,等. 基于遗传算法的正电子湮没寿命谱拟合[J]. 核技术,2011(3):179-182.
APA 马敏阳,秦秀波,姜小盼,于润升,王宝义,&吴伟明.(2011).基于遗传算法的正电子湮没寿命谱拟合.核技术(3),179-182.
MLA 马敏阳,et al."基于遗传算法的正电子湮没寿命谱拟合".核技术 .3(2011):179-182.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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