YBCO薄膜微结构的表征
文献类型:期刊论文
作者 | 刘翠秀; 陈向明; 唐卫华; 王勇; 徐明![]() ![]() ![]() ![]() |
刊名 | 高能物理与核物理
![]() |
出版日期 | 2001 |
期号 | S1页码:96-99 |
关键词 | YBcO x射线技术 微结构 |
其他题名 | MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF YBCO THIN FILMS GROWN ON YSZ |
中文摘要 | 用X射线衍射技术和扫描电镜详细表征了生长在Y-zrO2(YSZ)衬底上YBa2Cu3O7- (YBCO)薄膜的微结构.结果发现,采用Eu2CuO4(ECO)做缓冲层,可以提高YBCO薄膜的质量,而不改变其超导性能. |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223188] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 高能物理研究所_粒子天体物理中心 中国科学院高能物理研究所_人力资源处 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘翠秀,陈向明,唐卫华,等. YBCO薄膜微结构的表征[J]. 高能物理与核物理,2001(S1):96-99. |
APA | 刘翠秀.,陈向明.,唐卫华.,王勇.,徐明.,...&高矩.(2001).YBCO薄膜微结构的表征.高能物理与核物理(S1),96-99. |
MLA | 刘翠秀,et al."YBCO薄膜微结构的表征".高能物理与核物理 .S1(2001):96-99. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。