INVESTIGATION OF BONDING IN NANO-SiO_2 BY Si L_(2,3) X-RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURE SPECTROSCOPY
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wu ZY(吴自玉) ; Kui RX(奎热西); Li G(李刚); Z.Y.Wu; K.Ibrahim; G.Li; J.Zhang; F.Q.Liu; M.I.Abbas; R.Hu
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| 刊名 | 金属学报(英文版)
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| 出版日期 | 2001 |
| 期号 | 6页码:473-478 |
| 通讯作者 | 吴自玉 |
| 中文摘要 | 超星 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223279]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wu ZY,Kui RX,Li G,et al. INVESTIGATION OF BONDING IN NANO-SiO_2 BY Si L_(2,3) X-RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURE SPECTROSCOPY[J]. 金属学报(英文版),2001(6):473-478. |
| APA | 吴自玉.,奎热西.,李刚.,Z.Y.Wu.,K.Ibrahim.,...&钱海杰.(2001).INVESTIGATION OF BONDING IN NANO-SiO_2 BY Si L_(2,3) X-RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURE SPECTROSCOPY.金属学报(英文版)(6),473-478. |
| MLA | 吴自玉,et al."INVESTIGATION OF BONDING IN NANO-SiO_2 BY Si L_(2,3) X-RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURE SPECTROSCOPY".金属学报(英文版) .6(2001):473-478. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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