50nm及50nm以下同步辐射X射线光刻光束线设计
文献类型:期刊论文
作者 | 谢常青; 陈大鹏; 李兵; 叶甜春; 伊福廷![]() ![]() ![]() |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 2004 |
期号 | 5页码:321-324 |
关键词 | X射线光刻 同步辐射 束衍生法 光刻分辨率 |
其他题名 | SYNCHROTRON RADIATION X-RAY LITHOGRAPHY BEAMLINE DESIGN FOR 50NM RESOLUTION AND BELOW |
中文摘要 | X射线光刻相对于其他下一代光刻技术而言有许多优点,比如其工艺宽容度大、成品率高、景深大、曝光视场大、成本低等,更为重要的是,其技术已经比较成熟。对于 100nm 同步辐射 X 射线光刻系统而言,它采用的波长通常为 0.7—1.0nm,而当光刻分辨率达到 50nm 以下时,采用的同步辐射 X 射线波长范围应该为 0.2—0.4 nm。探讨了在北京同步辐射 3B1A 光刻束线上进行 50nm X 射线光刻的可能性。 |
公开日期 | 2016-02-25 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/223328] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢常青,陈大鹏,李兵,等. 50nm及50nm以下同步辐射X射线光刻光束线设计[J]. 核技术,2004(5):321-324. |
APA | 谢常青.,陈大鹏.,李兵.,叶甜春.,伊福廷.,...&张菊芳.(2004).50nm及50nm以下同步辐射X射线光刻光束线设计.核技术(5),321-324. |
MLA | 谢常青,et al."50nm及50nm以下同步辐射X射线光刻光束线设计".核技术 .5(2004):321-324. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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