一种正电子断层扫描中符合系统及符合方法
文献类型：专利
| 作者 | 李可 ; 魏龙; 李道武; 章志明; 孔伟; 单宝慈; 王宝义
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| 发表日期 | 2007-03-21 |
| 专利号 | CN100563575 |
| 公开日期 | 2009-12-02 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/210974]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李可,魏龙,李道武,等. 一种正电子断层扫描中符合系统及符合方法. CN100563575. 2007-03-21. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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