一种获得高品质薄膜样品X射线吸收谱的方法
文献类型：专利
| 作者 | 张静 ; 陈栋梁; 安鹏飞; 宋冬燕; 谢亚宁; 胡天斗
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| 发表日期 | 2012-12-28 |
| 专利号 | CN103076352A |
| 公开日期 | 2013-05-01 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/211094]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张静,陈栋梁,安鹏飞,等. 一种获得高品质薄膜样品X射线吸收谱的方法. CN103076352A. 2012-12-28. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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