具有空间分辨能力的X射线微区吸收谱测量方法
文献类型：专利
| 作者 | 张凯 ; 吴雪卉; 朱佩平; 袁清习; 黄万霞
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| 发表日期 | 2014-07-18 |
| 专利号 | CN104122279A |
| 公开日期 | 2014-10-29 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/211202]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张凯,吴雪卉,朱佩平,等. 具有空间分辨能力的X射线微区吸收谱测量方法. CN104122279A. 2014-07-18. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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