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Synchrotron radiation x-ray multilayer film synthetic polarization measuring apparatus

文献类型:专利

作者Cui MQ(崔明启); Sun LJ(孙立娟); Xue S(薛松); Zhu J(朱杰)
发表日期2009-03-17
专利号HK1124659A1
公开日期2011-03-18
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/211300]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Cui MQ,Sun LJ,Xue S,et al. Synchrotron radiation x-ray multilayer film synthetic polarization measuring apparatus. HK1124659A1. 2009-03-17.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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