共聚焦微束X射线荧光分析方法的建立及其在科技考古中的应用研究
文献类型：项目
| 作者 | 冯松林 |
| 发表日期 | 2009 |
| 结束日期 | 2011-12-31 |
| 关键词 | 共聚焦 微X射线荧光分析 科技考古 无损分析标准样品 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/198647]  |
| 专题 | 多学科研究中心_项目/基金 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯松林.共聚焦微束X射线荧光分析方法的建立及其在科技考古中的应用研究.2009. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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