用同步辐射X射线漫散射研究p型ZnO性能退化的微结构根源
文献类型：项目
| 作者 | 王焕华 |
| 发表日期 | 2010 |
| 结束日期 | 2012-12-31 |
| 关键词 | X射线漫散射 p型ZnO 缺陷 微结构 退化机制 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/198665]  |
| 专题 | 多学科研究中心_项目/基金 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王焕华.用同步辐射X射线漫散射研究p型ZnO性能退化的微结构根源.2010. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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