博士论文-X射线散射成像探测技术研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 刘彦韬
|
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2014 |
| 授予单位 | 中国科学院大学 |
| 授予地点 | 北京 |
| 导师 | 魏龙 ; 章志明 |
| 关键词 | X射线散射成像 探测器 光电倍增管 硅光电倍增管 GEANT4 |
| 学位专业 | 粒子物理与原子核物理 |
| 中文摘要 | X射线散射成像技术（以下简称散射成像）是一种基于康普顿散射效应的非侵入性成像技术，它通过不同物质对X射线的散射截面差异获取物体的密度分布。散射成像具有对低原子序数元素敏感、成像装置安排灵活、可以直接三维成像等特点，可以与透射成像优势互补，是一种极具发展潜力的成像技术。 首先，本论文针对现有散射成像系统的技术特点和国内外研究进展进行分析，将目标定位于“推扫扫描”散射成像系统的研制。同时通过理论分析和GEANT4蒙卡模拟验证了康普顿散射强度与物质密度之间的关系。 其次，针对XP1452光电倍增管和LYSO闪烁晶体特性，以GEANT4蒙卡模拟与实验相结合的方式，研制出一套双排线阵列“推扫扫描”散射成像系统。该系统不仅可满足高速、大通量扫描的需求，还可实现深度甄别功能，强化了系统的图像识别能力。 再次，进一步研究将面阵列探测器用于“推扫扫描”散射成像的可行性，初步实验表明，该方案可实现直接的三维成像，解决影像叠加现象，但探测效率很低，暂时还不满足高速、大通量扫描的需求，需进一步研究 最后，还针对ArraySL-4硅光电倍增管和CsI（Tl）晶体的特性，探究硅光电倍增管用于散射成像的关键技术，并初步研制出一套基于硅光电倍增管的线阵列“推扫扫描”散射成像系统。该系统空间分辨率好、结构紧凑，适合便携式散射成像，但噪声性能还需进一步优化。 |
| 学科主题 | 粒子物理与原子核物理 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/210182]  |
| 专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心_学位论文和出站报告 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘彦韬. 博士论文-X射线散射成像探测技术研究[D]. 北京. 中国科学院大学. 2014. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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