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Curie温度附近稀磁半导体(Ga,Mn)As的电学噪声谱性质

文献类型:期刊论文

作者杨威 ; 姬扬 ; 罗海辉 ; 阮学忠 ; 王玮竹 ; 赵建华
刊名物理学报
出版日期2009
卷号58期号:12页码:8560-8565
中文摘要建立了自发噪声谱测量系统来研究稀磁半导体(Ga,Mn)As的电学噪声性质.通过测量(Ga,Mn)As材料的自发噪声谱,发现(Ga,Mn)As的自发涨落会随温度升高而逐渐增大,同时,外加磁场会降低(Ga,Mn)As的自发涨落,这来源于外加磁场导致的(Ga,Mn)As磁畴部分有序化.此外,不同频率的噪声随温度的变化规律有很大差异:当频率低于30 kHz的时候,噪声谱和温度的变化关系和热噪声很相似,但数值上明显大于热噪声的值;当频率在30 kHz左右的时候,噪声大小和温度成线性关系;当频率大于30 kHz以后,在相变点附近噪声大小和温度的关系出现了明显的转折,高频高温噪声的大小和热噪声的理论值非常接近.这些结果有助于深入理解(Ga,Mn)As磁性起源的物理机制.
英文摘要建立了自发噪声谱测量系统来研究稀磁半导体(Ga,Mn)As的电学噪声性质.通过测量(Ga,Mn)As材料的自发噪声谱,发现(Ga,Mn)As的自发涨落会随温度升高而逐渐增大,同时,外加磁场会降低(Ga,Mn)As的自发涨落,这来源于外加磁场导致的(Ga,Mn)As磁畴部分有序化.此外,不同频率的噪声随温度的变化规律有很大差异:当频率低于30 kHz的时候,噪声谱和温度的变化关系和热噪声很相似,但数值上明显大于热噪声的值;当频率在30 kHz左右的时候,噪声大小和温度成线性关系;当频率大于30 kHz以后,在相变点附近噪声大小和温度的关系出现了明显的转折,高频高温噪声的大小和热噪声的理论值非常接近.这些结果有助于深入理解(Ga,Mn)As磁性起源的物理机制.; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 12:59:35导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T04:59:35Z (GMT). No. of bitstreams: 1 3609.pdf: 1068951 bytes, checksum: 69419f58ca48f04e0316ad65b47f23a6 (MD5) Previous issue date: 2009; 国家自然科学基金; 中国科学院半导体研究所
学科主题半导体物理
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-28
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/15631]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
杨威,姬扬,罗海辉,等. Curie温度附近稀磁半导体(Ga,Mn)As的电学噪声谱性质[J]. 物理学报,2009,58(12):8560-8565.
APA 杨威,姬扬,罗海辉,阮学忠,王玮竹,&赵建华.(2009).Curie温度附近稀磁半导体(Ga,Mn)As的电学噪声谱性质.物理学报,58(12),8560-8565.
MLA 杨威,et al."Curie温度附近稀磁半导体(Ga,Mn)As的电学噪声谱性质".物理学报 58.12(2009):8560-8565.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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