BEI─1电子直线加速器中残余气体的质谱分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 周锦宝; 陈鹤芳; 何凡 |
| 刊名 | 真空
 |
| 出版日期 | 1985 |
| 期号 | 1页码:51-57 |
| 关键词 | 微波功率 电子直线加速器 残余气体 BEI 质谱分析 四极质谱计 真空系统 谱峰 加速管 总压强 |
| 通讯作者 | 周锦宝 |
| 中文摘要 | 本文详细叙述了ＢＥＩ－１＜３０ＭｅＶ）电子直线加速器在有微波功率和电子束流作用下，真空系统中残余气体成份的变化谱图，及在不同微波功率和束流时谱图变化特点。并对变化的谱峰成份来源作了初步分析和探讨。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217031]  |
| 专题 | 高能物理研究所_加速器中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周锦宝,陈鹤芳,何凡. BEI─1电子直线加速器中残余气体的质谱分析[J]. 真空,1985(1):51-57. |
| APA | 周锦宝,陈鹤芳,&何凡.(1985).BEI─1电子直线加速器中残余气体的质谱分析.真空(1),51-57. |
| MLA | 周锦宝,et al."BEI─1电子直线加速器中残余气体的质谱分析".真空 .1(1985):51-57. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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