几种胶粘剂常温真空出气率测定及质谱分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘志满; 李信芳; 徐贵昌; 张敏秀 |
| 刊名 | 粘接
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| 出版日期 | 1982 |
| 期号 | 5页码:12--14 |
| 关键词 | 受控核聚变 质谱分析 测试分析方法 胶膜 微量分析 超高真空系统 残余气体 加工工艺条件 结构材料 吸附阱 |
| 通讯作者 | 刘志满 |
| 中文摘要 | 为评价用于粘接GBH—1型受控核聚变实验装置大型陶瓷真空室胶粘剂的真空性能,对密封1#胶、420#胶膜、212#胶及改性DW—3胶进行了常温真空出气率测定,并对出气成份进行了质谱分析.本文介绍测试分析方法及结果. |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217598]  |
| 专题 | 高能物理研究所_加速器中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘志满,李信芳,徐贵昌,等. 几种胶粘剂常温真空出气率测定及质谱分析[J]. 粘接,1982(5):12--14. |
| APA | 刘志满,李信芳,徐贵昌,&张敏秀.(1982).几种胶粘剂常温真空出气率测定及质谱分析.粘接(5),12--14. |
| MLA | 刘志满,et al."几种胶粘剂常温真空出气率测定及质谱分析".粘接 .5(1982):12--14. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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