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大功率半导体激光器热弛豫时间的测量

文献类型:期刊论文

作者程灿 ; 辛国锋 ; 皮浩洋 ; 瞿荣辉 ; 方祖捷
刊名中国激光
出版日期2006
卷号33期号:12页码:1671
关键词激光技术 半导体激光器 时间分辨谱 热弛豫时间
ISSN号0258-7025
中文摘要根据脉冲工作状态下半导体激光器激射光谱随结温升高而发生红移的原理,提出了一种测试半导体激光器热弛豫时间的新方法——利用调节取样积分器(Boxcar)取样门,测量光信号脉冲内不同时刻的时间分辨光谱。采用此方法对TO封装和厘米-靶条(cm—Bar)阵列的AlGaAs/GaAs半导体激光器的动态热特性进行了测试,得到其热弛豫时间分别为66μs和96μs。
学科主题激光器;半导体激光器
分类号TN248.4
收录类别ei
语种中文
公开日期2009-09-18
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/1338]  
专题上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
程灿,辛国锋,皮浩洋,等. 大功率半导体激光器热弛豫时间的测量[J]. 中国激光,2006,33(12):1671, 1674.
APA 程灿,辛国锋,皮浩洋,瞿荣辉,&方祖捷.(2006).大功率半导体激光器热弛豫时间的测量.中国激光,33(12),1671.
MLA 程灿,et al."大功率半导体激光器热弛豫时间的测量".中国激光 33.12(2006):1671.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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