光电倍增管的光电子幅度谱测试研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孟祥承; 杨长根 ; 王志民; 石峰; 关梦云; 钟玮丽; 刘金昌
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 6页码:28-34 |
| 关键词 | 光电倍增管 光电子幅度谱 单光电子 暗电流 |
| 其他题名 | MEASURING AND STUDY FOR PHOTOELECTRON SPECTRUM OF THE PHOTOMULTIPLIER |
| 通讯作者 | 孟祥承 |
| 中文摘要 | 主要介绍光电倍增管的光电子幅度谱(单光电子及多光电子幅度谱)的几种常用的测试方法及用LED光源、EMI的光电倍增管精密测得的单光电子及多光电子谱。同时也介绍了用LED光源测得的单光电子幅度谱及用热发射法测得的暗电流谱的差异,并分析了两种方法测得的幅度谱的差异的主要根源。 |
| 公开日期 | 2016-02-25 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218246]  |
| 专题 | 高能物理研究所_粒子天体物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孟祥承,杨长根,王志民,等. 光电倍增管的光电子幅度谱测试研究[J]. 核电子学与探测技术,2005(6):28-34. |
| APA | 孟祥承.,杨长根.,王志民.,石峰.,关梦云.,...&刘金昌.(2005).光电倍增管的光电子幅度谱测试研究.核电子学与探测技术(6),28-34. |
| MLA | 孟祥承,et al."光电倍增管的光电子幅度谱测试研究".核电子学与探测技术 .6(2005):28-34. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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