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硅微条探测器

文献类型:期刊论文

作者孟祥承
刊名核电子学与探测技术
出版日期2003
期号1页码:4--18
关键词硅微条探测器 p-n结 耗尽层 死层 像素探测器 硅片探测器 电荷耦合探测器 硅漂移室
其他题名Silicon microstrip detector
通讯作者孟祥承
中文摘要硅微条探测器的位置分辨率可好于σ=1.4μm,这是任何气体探测器和闪烁探测器很难作到的。主要介绍硅微条探测器的特点、结构、工作原理及其在近年来的发展和在高能物理、核医学等领域应用概况。
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218250]  
专题高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
孟祥承. 硅微条探测器[J]. 核电子学与探测技术,2003(1):4--18.
APA 孟祥承.(2003).硅微条探测器.核电子学与探测技术(1),4--18.
MLA 孟祥承."硅微条探测器".核电子学与探测技术 .1(2003):4--18.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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