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新型硅微条等探测器的发展及应用

文献类型:期刊论文

作者孟祥承
刊名电子元器件应用
出版日期2004
期号3页码:1-7+24
关键词半导体探测器 硅微条探测器 像素探测器 电荷耦合探测器 硅漂移室 综述
其他题名DEVELOPMENT AND APPLICATION OF NEW SI MICROSTRIP DETECTORS
通讯作者孟祥承
中文摘要最近几年,新型半导体探测器如硅微条,pixel,CCD,硅漂移室等的发展很快,在高能物理和天体物理实验中广泛应用,作为顶点及径迹探测器,它们的位置分辨率非常高,硅微条探测器的位置分辨能力目前可达到好于1.4μm,这是任何气体探测器和闪烁探测器很难达到的。主要介绍这些新型半导体探测器的结构、原理及其在高能物理、天体物理、核医学等领域的应用。
公开日期2016-02-25
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218415]  
专题高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
孟祥承. 新型硅微条等探测器的发展及应用[J]. 电子元器件应用,2004(3):1-7+24.
APA 孟祥承.(2004).新型硅微条等探测器的发展及应用.电子元器件应用(3),1-7+24.
MLA 孟祥承."新型硅微条等探测器的发展及应用".电子元器件应用 .3(2004):1-7+24.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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